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浅谈半导体分立器件综合测试硬件系统的研究

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摘要

半导体分立器件的生产和应用过程中将测试作为重点,对测试设备提出了更高的要求,测试系统的研究和设计也十分紧迫.本文介绍了半导体分立器件测试系统的硬件总体设计方案,分析了不同构件的设计方法和技术指标,同时对测试系统误差的控制方法进行了讨论.

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来源
《科学家》 |2016年第5期|P.66-67|共2页
作者
卫星星; 陈云飞;
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作者单位

中国振华集团永光电子有限公司,贵州贵阳550001;

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正文语种 CHI
中图分类半导体技术;
关键词
半导体分立器件; 测试; 硬件系统; 研究设计;

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