红外探测器光谱响应度测试技术的探讨

摘要

作为探测设备的一个最主要的技术参数，在近年来红外探测技术日益推广应用的背景下．能够实现准确测量的光谱响应度日前已经相当重要了。本文分析了红外探测设备光谱响应度技术的主要原理．并利用这种测量装置的组建，通过腔体热释电设施对其进行了核准测试，经过对光谱响应度的反复试验比对，得出了红外探测设备相对均匀的系数取值，然后阐述了对红外探测设备光谱响应度测试技术不可预见情况的制约因素。同时．上述实验是在1—20μm的范畴内进行的装置测试，所以对于InSb探测设备以及HgCdTe探测设备光谱响应度的测试，也能够进行精准的测量．但是红外探测设备光潜响应度的测试技术，在数据的精确取值方面相对还是能够得到较高的保障。