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魏娜娣;
河北师范大学;
河北石家庄050000;
软件缺陷; 软件质量; 缺陷识别; 缺陷级别;
机译:使用数据挖掘技术的类级别度量标准聚合中的软件缺陷预测
机译:自动识别代码特征以进行软件缺陷预测:使用AST N-gram
机译:特征选择技术对软件缺陷识别模型的影响
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机译:自治系统中传感与修复软件缺陷的挑战。
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