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高性能模数变换器测试平台设计

         

摘要

雷达和通信系统中使用的模数变换器(analog-to-digital converter,ADC)的带宽和采样率越来越高,接口形式从并口向JESD204B发展.为了满足ADC芯片在开发、生产、评估和应用中进行性能测试的需求,在研究ADC性能指标及其测试方法的基础上,采用高性能可编程逻辑门阵列(field-programmable gate array,FPGA)结合DSP(digital signal processor)的架构,设计了通用的高性能模数变换器性能测试平台,开发了数据采集和性能分析软件,并且针对多款不同接口形式且采样率从240 MSPS(million samples per second)到5 GSPS(gigabit samples per second)的ADC进行了性能测试实验.结果表明,该平台能够满足最新ADC的性能测试需求,具有接口灵活、运算能力强、实时性高等特点.

著录项

  • 来源
    《科学技术与工程》 |2020年第20期|8224-8232|共9页
  • 作者单位

    中国计量大学信息工程学院 浙江省电磁波信息技术与计量检测重点实验室 杭州310018;

    中国计量大学信息工程学院 浙江省电磁波信息技术与计量检测重点实验室 杭州310018;

    中国计量大学信息工程学院 浙江省电磁波信息技术与计量检测重点实验室 杭州310018;

    中国计量大学信息工程学院 浙江省电磁波信息技术与计量检测重点实验室 杭州310018;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN792;
  • 关键词

    模数变换器; JESD204B; 现场可编程逻辑门阵列; 频谱分析;

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