首页> 中文期刊> 《安全与电磁兼容》 >基于Slwave的设备级辐射发射仿真分析

基于Slwave的设备级辐射发射仿真分析

         

摘要

cqvip:针对自制红外报警设备的近场辐射发射特性问题,提出了利用SIwave-Designer-HFSS三种模块对该设备的电源PCB、报警器PCB、机箱外壳三部分模型进行场路协同仿真的分析方法,并通过PCB板近场分布及观测点处场强的仿真与实测结果对比证实了该方法的可行性。基于SIwave的设备级辐射发射协同仿真方法是一种通用方法,适用于包含多块PCB及外壳的电子设备辐射发射特性的仿真分析。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号