首次提出的全光控制高灵敏纳米光机质谱仪

摘要

上海交通大学物理系朱卡的教授(图1)及其博士生李金金(图2)利用等离子体和纳米材料的耦合系统首次提出了用全光控制的方法测量微观粒子的质量.2011年6月,美国物理协会APS的新闻中心Physical Review Focus (PRF)报道了此项以交大为唯一单位的工作,题为“ Plasmon -assisted mass sensing in a hybrid nanocrystal coupled to a nanomechanical resonator”(Physical Review B 83,245421 2011 ).