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王敬; 刘安生; 王晓华; 周贻茹; 邵贝羚; 曾荣; 袁冠森;
Interface; Bi; 2223; superconductor; Microstructure;
机译:Bi-2223超导薄膜的MOCVD AFM和TEM观察
机译:TEM研究中间淬火对高J(c)Bi-2223胶带中某些缺陷的影响
机译:通过MOCVD生长的高质量Bi-2223薄膜的AFM和TEM研究
机译:有/没有热压和后退火处理的Ag / Bi-2223 TAPES的比较
机译:利用扫描穿隧显微镜探讨在硒化铟上未氧化表面和氧化表面之介面接合处的电子特性 =Scanning Tunneling Microscope study of InSe Surface Electronic Properties at the Fresh/Oxided Interface Junction
机译:评“安德列夫反思的统一形式主义” Ferromagnet / superconductor Interface“作者:T.Y。Chen,et al
机译:studies of ferroelectric heterostructure thin films and interfaces via in situ211 analytical techniques
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