基于Renishaw激光干涉仪的数控机床摆动轴位置精度的测量与分析

摘要

文中主要介绍了如何利用Renishaw XL-80激光干涉仪和XR20-W回转轴校准装置,结合摆动轴转台实际结构和安装形式对旋转位置精度进行准确的测量与分析.通过对摆动轴测量基本方法和条件的介绍,特别是深入解析了摆动轴直接工装法和偏置测量法的试验步骤和关键点,有效降低了环境条件和检测系统误差对摆动轴转台位置精度准确性的影响,从而使摆动轴转台得到更精准的测量数据和误差分析,提高数控机床中摆动轴转台的位置精度.