ARM+DSP系统MMU在射频一致性测试仪表的实现

摘要

针对单核处理器MMU无法满足TD-LTE射频一致性测试仪对存储系统提出的高性能需求,提出了一种基于功能强大的ARM+DSP双核嵌入式系统的MMU实现方法.根据TD-LTE系统的设计需求,重点介绍了双核MMU在不同环境下的设计及其与各种方案的对比分析.基于双核系统中ARM与DSP处理器各自特点和需求,设计了两种MMU.在实现重映射后,双核系统实现上电自启动,并顺利响应了来自GPIO的IRQ中断.