复合绝缘子“灯笼串”发热故障机理及检测方法研究

摘要

红外测温结果表明,部分交流复合绝缘子在投运1年内表现出严重发热特征,与近年来报道的传统发热故障存在较大差异,其发热区域不局限于高压端部,绝缘子中部也存在3-5个不连续发热区域。依据发热区域的分布特征,本文将其命名为“灯笼串”发热故障。在研究过程中,本文采用故障绝缘子进行了耐压试验、吸水试验、显微CT测试和扫描电镜分析,获得了发热绝缘子芯棒内孔隙的三维结构,并针对贯穿孔对电场分布的影响进行了有限元仿真计算。研究结果表明,贯穿孔能够显著改变电场分布,是导致“灯笼串”发热故障的主要原因。为识别芯棒中可能导致发热故障的孔隙缺陷,本文将染料渗透试验的试验时间从15分钟延长到2小时,改进后的试验方法对芯棒内贯穿孔的检测效果显著提高。