首页> 中文期刊> 《警察技术》 >基于X射线背散射和透射信息融合的被检物密度探测研究

基于X射线背散射和透射信息融合的被检物密度探测研究

         

摘要

本文对影响背散射信号的因素进行分析,并分别对影响散射信号强度的距离和厚度因素进行校正,利用校正后的背散射信号和低能透射信号提取出与被检物密度相关的特征量L,然后利用L对被检物进行区分,达到物质分类的目的.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号