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用Moire条纹偏转技术测杨氏模量

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用Ｍｏｉｒｅ条纹偏转技术测杨氏模量林万荣（华南理工大学广州５１０６４１）Ｍｏｉｒｅ条纹偏转测量技术是一种简单的光线追迹法，是纯几何光学，故简化了数学处理．Ｍｏｉｒｅ条纹偏转技术和干涉度量技术相比，它并不要求知道真正的相位，所以对实验装置的机械稳定性的...

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来源
《物理实验》 |1996年第5期|197-198|共2页
作者
林万荣;
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作者单位

华南理工大学;

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正文语种 CHI
中图分类工程材料力学（材料强弱学）;
关键词
杨氏模量测定; 莫尔条纹;

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