声明
1 绪论
1.1 研究背景及意义
1.2 国内外研究现状
1.3 课题主要研究内容
2 莫尔条纹测量的原理与方法基础
2.1 莫尔效应的光学原理
2.2 莫尔条纹平面位移测量原理
2.3 莫尔条纹平面转角测量原理
2.4 莫尔条纹其他测量应用原理
2.5 本章小结
3 系统总体设计
3.1 功能需求分析
3.2 系统构架
3.3 系统模块功能设计
3.4 系统开发工具介绍
3.5 系统软件设计
3.6 系统硬件设计与选择
3.7 本章小结
4 虚拟自基准栅莫尔条纹法
4.1 传统CCD/CMOS莫尔条纹法
4.2 虚拟自基准栅莫尔条纹法原理
4.3 倾斜栅线宽度量测
4.4 虚拟自基准栅叠合
4.5 条纹特征图像提取
4.6 特征线的距离计算
4.7 位移及角度量测
4.8 虚拟自基准栅莫尔条纹法优势分析
4.9 本章小结
5 软件实现
5.1 软件实现的关键问题
5.2 软件功能演示
5.3 本章小结
6 实验
6.1 实验准备
6.2 实验结果及分析
6.3 本章小结
7 总结与展望
7.1 总结
7.2 展望
参考文献
致谢