首页> 中文期刊>激光技术 >Moire偏转技术(MD)检测相位物体的研究

Moire偏转技术(MD)检测相位物体的研究

     

摘要

本文给出了Moire偏转技术检测相位物体的基本原理,分析了该技术的灵敏度,提出了一种消除测量光路系统误差的有效方法,并给出了实验结果。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号