用激光锥光干涉法测量单轴晶体的双折射率

摘要

＜正＞ 双折射率是单轴晶体的重要光学参数之一。通常双折射率的测量通过棱镜法进行,在这种测量方法中,需要将较大尺寸的样品加工成精密棱角的棱体,显然,这是很不方便的,而且,它对分光仪的测角精度要求也很高。为此,我们尝试用众所周知的锥光干涉法来测量晶体的双折射率,⊿n的精度达±0.001,测量方法简便,易行,重复性好。