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【2h】

SI-traceable absolute distance measurement over more than 800 meters with sub-nanometer interferometry by two-color inline refractivity compensation

机译：SI可追踪绝对距离测量超过800米，具有双纳米干涉测量，双色内联折射率补偿

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Karl Meiners-Hagen; Tobias Meyer; Jutta Mildner; Florian Pollinger;
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年度 2017
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1. SI-traceable absolute distance measurement over more than 800 meters with sub-nanometer interferometry by two-color inline refractivity compensation [J] . Meiners-Hagen Karl, Meyer Tobias, Mildner Jutta, Applied Physics Letters . 2017,第19期

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2. Index of Refraction Measurements Using a Laser Distance Meter [J] . Romulo Ochoa, Richard Fiorillo, Cris Ochoa The Physics Teacher . 2014,第3期

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4. Non-contact absolute internal distance measurement between two mirrors by using a low-coherence tandem interferometer (2st Report) Evaluation of the length compensation value due to difference of group refractive index [C] . Agustinus WINARNO, Shusei MASUDA, Hirokazu MATSUMOTO, 精密工学会大会学術講演会 . 2016

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5. Absolute distance (thickness) metrology using wavelength scanning interferometry. [D] . Suratkar, Amit Ravindra. 2009

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