附加斜面法用于三维物体面形测量

摘要

本文提出了一种新的三维物体面形测量方法。用硬件电路,实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中,可以获得物体在视场内附加了一个倾斜面的高度。整个物体面形可以通过减去这个附加倾斜面获得。