首页> 中文期刊> 《光电工程》 >偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响

偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响

         

摘要

天顶跟踪盲区是地平式光电跟踪系统的固有缺陷.X-Y双轴式光电跟踪系统(规则X-Y双轴式)可以解决过顶跟踪问题,但跟踪范围极为有限,把视轴沿X轴方向平移偏距D,形成一种改进的X-Y双轴式光电跟踪系统,即偏X-Y双轴式光电跟踪系统.偏X-Y双轴式光电跟踪系统可以解决过顶跟踪问题,其跟踪范围与规则X-Y双轴式光电跟踪系统相比有很大提高.由D引入的跟踪误差可以忽略或修正,但具有更大的地平面跟踪盲区.

著录项

  • 来源
    《光电工程》 |2006年第5期|1-5,26|共6页
  • 作者单位

    中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

    中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

    中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 地面测量控制系统;
  • 关键词

    X-Y双轴式跟踪架; 过顶跟踪; 跟踪性能; 偏距;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号