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球面绝对检测及误差控制

         

摘要

高精度检测技术是促进光学加工技术发展的必备条件.ZYGO干涉仪检测光学表面面形代表着国际先进水平,常规检测精度取决于仪器配备的标准镜头(通常标准镜头精度为λ/10,最高精度可达λ/20),λ/20测量精度不能满足更高精度面形检测的需求.本文探讨了表面绝对检测技术及误差控制,通过用ZYGO干涉仪及两种精度等级的参考镜头对f/1.07的球面镜进行常规GPI干涉和双球面实时绝对检测比对,证明了表面绝对检测的有效性.实验及分析表明:在超净实验室、高精度防振平台、高精密可旋转5维调整架及精密导轨的测量条件下,采用表面绝对测量技术,严格控制基准定位和共焦位置旋转角度定位,多次重复测量,λ/10标准镜头同样能够达到λ/30 PV的高精度检测目的.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》 |2004年第z2期|1-5|共5页
  • 作者

    李斌; 阚珊珊; 王淑荣;

  • 作者单位

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TQ171.65;
  • 关键词

    干涉测量; 绝对检测; 误差控制;

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