基于S型结构的光纤光栅微位移传感器的研究

摘要

提出了一种特殊的光纤光栅传感器,该传感器在S型结构上刻写而成.在实验中,监测传感器透射光谱中的波谷特征波长实现微位移的测量.为了获取精准的测量数据,实验选取在1533.06nm(dip1)和1564.57nm(dip2)两处的干涉谷的特征波长作为观察的对象.通过理论分析和实验验证在O～ 70μ m的微位移测量范围,两个干涉谷漂移量与微位移均呈现良好的线性关系.