纳米分辨率线位移测量技术获新突破

摘要

由中科院长春光机所承担的应用基础研究项目——“高精度纳米分辨率线位移测量技术研究”，最近在长春通过专家鉴定。鉴定委员会专家一致认为。该项研究所制成的高精度纳米测量传感器样机达到4倍光学倍频．技术指标达到国际先进水平。