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基于偏导数和统计学方法的电阻率测深二维反演

         

摘要

为了获得详细直观的视电阻率测深数据的反演结果,本文研究了利用视电阻率测深数据的偏导数变化和统计学参数,设计初始模型的反演方法。该方法先判断地层电性结构类型,再圈定目标体位置。利用包含地下地层参数的偏导数信息和一维反演结果的统计学特征,设计出有层参数和地层结构的初始模型。在此基础上使用遗传算法修改模型,配合二维有限元法正演达到拟合误差最小,从而完成电阻率测深数据的二维反演。此法的优点在于初始模型与真实的地层结构有很大的相似性;不需要解大型线性方程组,降低计算量;反演过程中独立计算总体拟合误差和异常体影响区域拟合误差,指导优先变异方向。反演后给出直观的解释结果。对理论模型及实测数据试算证明该方法可以获得较实用的反演效果。

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