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徐彭寿; 邓锐; 潘海斌; 徐法强; 李拥华;
中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥,230029;
光电子衍射; 半导体; 表面结构; GaAs; GaN;
机译:通过化学状态区分的硬X射线光电子衍射研究极性InN薄膜的近表面结构
机译:快速和时间分辨的X射线光电子衍射研究表面结构的动力学
机译:清洁的TiO_2(110)(1 x 1)表面结构的光电子衍射研究
机译:X射线光电子谱,飞行时间二次离子质谱和X射线衍射中掺杂掺杂氧化锌中半导体金属转变的见解
机译:X射线光电子衍射和低能电子衍射纳米级过渡金属氧化物膜的表面结构测定
机译:常规光电子衍射数据的傅里叶变换分析用于表面结构测定
机译:X射线光电子衍射衍射X射线光电子衍射对金属 - 半导体触点表面层的表征。
机译:傅里叶变换光电子衍射及其在分子轨道和表面结构中的应用。
机译:用于研究光斑强度,特别是用于费勒普鲁芬纺织品表面结构的衍射图的次要最大值的方法和设备
机译:在半导体材料上制造衍射网络的方法,以及根据所述方法实施的包括衍射网络的光电子设备
机译:用该方法制造的衍射晶格在半导体材料和光电子器件中形成衍射晶格的方法
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