N+辐照非注入因素对微生物存活率的影响

摘要

低能N+辐照Escherichia coli LE392前非注入因素如干燥、真空及菌悬液室温静置时间对其存活率的影响在本文中进行了研究.结果表明,样品干燥过程中E.coli存活率并非稳步下降,而存在一个瞬间急剧降低的现象;干燥样品放入真空靶室的瞬间,真空对E.coli的致死作用最大,随真空处理时间的增加E.coli存活率虽有下降但不显著;E.coli菌悬液室温放置过程中随时间延长其真空的耐受力也相应增加,分批培养的方法为研究提供了状态一致的新鲜样品,避免了由于注入样品间状态差异所引起的试验误差.在控制非注入因素的条件下,将N+ 1×1014 cm-2和3×1015 cm-2注入E.coli后,相同剂量不同批次间E.coli的存活率无显著差异.