完美晶体双聚焦单色器与镶嵌晶体垂直聚焦单色器的模拟研究

摘要

为满足中子衍射应力分析谱仪高注量率和高分辨率的要求,采用蒙特卡罗模拟程序SIMRES对其单色器进行了模拟研究.分别从单色器衍射几何(对称、非对称和完全非对称)、聚焦条件(垂直和水平聚焦曲率)和晶体类型(完美晶体和镶嵌晶体)三个方面,以品质因子为量化指标,系统比较了与谱仪的注量率和分辨率的影响关系.研究结果表明:采用对称几何及完美晶体双聚焦方式可以获得最佳的谱仪性能.