HL-2A装置SDD软X射线能谱测量结果

摘要

用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度.SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合.SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z＝0)得到加热的迹象比z=-16.4cm处更加显著,由此可推断出在轴ECRH期间ECW的能量主要沉积在等离子体芯部并且电子温度剖面趋于峰化.对2.41T≤环向磁场BT2.43≤T, 1.5×1019m-3≤电子密度ne≤2.5×1019m-3,300kW≤ECRH功率≤600 kW范围的ECRH数据的统计结果表明:ECRH使得等离子体中的电子得到显著的加热,芯部等离子体电子温度可提升30%～80%,z=-16.4cm处的电子温度可提升15%～55%.