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Mo/Cu TES超导性能表征

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为了制备满足超高分辨率射线探测要求的超导转变边界探测器,对制备的Mo薄膜和Mo/Cu薄膜表征了其超导电学特性.结果表明,制备的Mo薄膜具有较好的超导性能,Mo/Cu薄膜的△T达到了2.1 mK@352 mK,α值达到了335.在1 mA的电流下,该α值可以满足超高分辨射线探测的要求.

著录项

来源
《核电子学与探测技术》|2020年第1期|33-38|共6页
作者
张宏俊; 文继; 莫钊洪; 王新明; 熊忠华; 帅茂兵;
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作者单位

中国工程物理研究院材料研究所四川绵阳621900;

中国工程物理研究院材料研究所四川绵阳621900;

中国工程物理研究院材料研究所四川绵阳621900;

中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川江油621907;

中国工程物理研究院材料研究所四川绵阳621900;

中国工程物理研究院材料研究所四川绵阳621900;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类Ｘ射线和宇宙射线谱仪;薄膜测量与分析;
关键词
超高分辨率; γ射线探测; 超导薄膜; 转变边界探测器;

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