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用238Pu源散射法分析矿物铁含量

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＜正＞我国铁矿众多,铁的分析工作量很大,但目前只有为数不多的矿山使用同位素源X荧光分析仪（简称PIF仪）来分析铁元素。其主要原因之一是分析精度较低。大多数铁

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来源
《核电子学与探测技术》 |1985年第1期|38-43|共6页
作者
张勤龙;
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作者单位

冶金工业部马鞍山矿山研究院;

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正文语种 chi
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关键词
同位素源; X射线; 散射分析; 铁矿;

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