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BESⅢ Muon鉴别器电子学系统的VME控制/扇出插件的设计和测试

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本文介绍了BESⅢMuon鉴别器读出电子学系统的VME控制/扇出插件的设计,其中包括插件的功能和结构,插件上FPGA逻辑的设计等.插件在制作和调试完成后,进行了相关功能和稳定性的测试.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2008年第3期|560-562|共3页
作者
程泽浩; 梁昊; 虞孝麒; 周永钊;
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作者单位

中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;

中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;

中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;

中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类核电子学仪器;
关键词
BESⅢ; Muon鉴别器; VME; FPGA; 控制/扇出插件;

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