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应用电导率法及Logistic方程测定金光杏梅抗寒性研究

             

摘要

以金光杏梅叶片为试材,分别测定其在5、0、-5、-15、-20℃处理24 h后电解质外渗率,并计算其半致死温度.结果表明:低温处理下,金光杏梅叶片电解质外渗率呈“S”型曲线增长,其半致死温度为-12.09℃.

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