新生儿低血糖脑损伤的MRI表现特征及扩散加权成像在早期发现低血糖脑损伤中的应用价值

摘要

目的:分析新生儿低血糖脑损伤患儿的MRI表现以及扩散加权成像的价值。方法:从2019年1月-2021年1月期间确诊入住本院的新生儿低血糖脑损伤患儿中选择40例进行回顾性分析,对整体患儿进行MRI检查以及扩散加权成像。结果:结果显示,患儿的MRI呈弥散性脑损伤改变,且主要累及脑部部位主要为顶枕叶、视辐射、胼胝体压部、内囊后肢、脑干、颞叶等部位。40例患儿中常规T1WI表现为受累部位信号稍低的患儿人数为19例,所占比例为47.5%。T2WI表现为受累部位稍高或者灰白质分界不清的人数为23例,所占比例为57.5%。合并出血时患者SWI序列病变内主要为片状低信号内容。患者整体DWI均存在异常改变,即检出病变的阳性几率为100%。结论:新生儿低血糖脑损伤病变,多为对称性分布情况,MRI技术作为临床常见的诊断措施,该检查方式主要以DWI序列更为突出,不仅可以增加病变检出率,充分显示出患儿的颅脑损伤情况,还能显示出患儿的不典型高信号。