基于MIP-MAP纹理映射技术在织物场景模拟中的应用

摘要

针对织物场景模拟中出现的纹理走样现象,分析在纹理映射过程中纹理走样产生的原因,提出解决纹理走样的办法.主要探讨了MIP-MAP技术在屏幕像素绘制过程中对纹理走样的抑制潜力,对算法实现进行研究,并在"纺织产品场景模拟系统"中得到实现.通过与Blinn方法得到得模拟效果进行对比,可以得出MIP-MAP技术能取得理想的纹理映射效果,有效解决走样问题,且不增加计算量.