基于FPGA的并行测试高速存储技术

摘要

为实现并行测试系统高速数据的存储需求,利用FPGA(Field-Programmable Gate Array)以并行控制的特性,内部构建两级多通道并行缓存架构,设计了一种大幅提高数据存储速度的高效的实现方法.在硬件方面,利用多片NAND Flash构成多通道存储阵列,通过在通道间并行操作,通道内芯片的流水线操作,结合FPGA内部的高速数据缓存机制来解决数据存储的速度瓶颈.测试结果表明该模块具有存储速度高,扩展性强等特点,能广泛应用于高速海量数据存储需求.