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一种空间辐射剂量测试系统的设计与试验

         

摘要

设计了一种基于微控制器的RadFET辐射剂量测试系统,介绍了系统的测试原理和方法,通过测量阈值电压的偏移值可得到吸收剂量.利用60 Co γ辐照测试系统进行了试验验证.试验结果表明:该测试系统能够实现宽范围辐射剂量测量,同时该系统也可用于其他MOSFET器件阈值电压的测量,尤其适用于辐射剂量的长期测量或者实时测量.

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