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谢华林;
湖南建材高等专科学校,湖南衡阳 421008;
电解铜; 萃取分离; ICP-AES;
机译:化学分离ICP-AES法测定氧化matrix基体中铟和镓。
机译:原子发射光谱法测定Cr_2O_3中杂质元素时基体对线强度的影响
机译:ICP-AES直接同时测定四氧化锰中的几种杂质元素
机译:用Cu(I)氨基碱溶液铜回收中电解铜中杂质元素的行为
机译:添加剂对使用不溶性阳极的铁电解铜电解中电流效率的影响
机译:莱茵衣藻中的核-基体连接器可能在基体定位或分离中起作用
机译:使用流动分析系统电解溶解黄铜合金ICp-aEs测定铜,锌和铅使用ICp-aEs测定铜,锌和铅的流动系统电解铜合金
机译:铜火花法精度和限值分光光度法测定钚中杂质元素的痕量
机译:电解铜精制过程中产生的硅泥中电解质的分离方法和电解铜精制过程中产生的硅酸盐的分析方法
机译:颗粒分离器,特别是用于内燃机的颗粒分离器,具有带开口的分离基体A,该分离基体A在排气供应开口之后设置在圆柱形分离器壳体中
机译:通过分析认为,在组成液晶薄膜的液晶层中分布的杂质元素和使用薄膜层构成的液晶面板中的杂质元素的分析结果均小于或等于规定值
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