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基于偏振调制技术的晶体各向异性参数实时检测系统

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摘要

介绍了基于偏振光电光调制技术对人工晶体各向异性参数的检测,设计了半嵌入式的微机实时检测系统,可完成对晶体光学双折射与二向色性特征参数计算分析,并可检测晶体缺陷.

著录项

来源
《计量技术》 |2005年第8期|8-10|共3页
作者
王宗宝; 王克逸; 孔春林;
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作者单位

中国科学技术大学,精密机械与精密仪器系,合肥,230027;

中国科学技术大学,精密机械与精密仪器系,合肥,230027;

福建92403部队,福州,350014;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计量学;
关键词
双折射; 光学二向色性; 数字信号处理器; 电光调制; 高压驱动;

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