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X射线衍射仪的X射线溯源

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摘要

针对X射线波长短、能量高,不易直接将X射线波长溯源至SI国际单位,通过采用不同单色器单色化入射X射线,将入射光源溯源至单晶硅晶格参数.结果显示X射线波长引入的最大不确定度为0.0013nm.

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来源
《计量科学与技术》 |2012年第8期|3-5|共3页
作者
任玲玲; 高慧芳;
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作者单位

中国计量科学研究院;

中国计量科学研究院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
X射线衍射仪; 单色器; 晶格; 校准; 不确定度; 溯源;

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