一种简易的智能数字芯片检测装置

摘要

针对实验教学过程中数字芯片型号识别和内部故障等问题,设计了一种基于MSP430系列单片机的低功耗智能数字芯片检测装置。利用布尔函数关系式建立了故障集,并对测试芯片生成测试向量,通过单片机编写待测芯片逻辑功能的测试程序,用单片机I/O对待测芯片的逻辑功能进行检测,并将检测结果与存储的芯片逻辑功能进行对比,判断待测芯片是否存在故障。实验结果表明,该装置能够实现对双列直插式数字芯片的快速检测,并显示数字芯片型号或故障,具有体积小、检测速度快,使用方便等优点。