单片机控制的常用IC芯片故障测试仪

摘要

介绍８０３１控制的常用下ＩＣ测试原理和硬件软件设计，本系统能完成ＴＴＬ７４，５４系列和ＣＭＯＳ４０００，４５００系列的数字集成电路，部分ＡＤＣ器件，部分ＤＡＣ器件，部分运算放大器等器件的测试。