抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究

摘要

主要探究解决控制系统在频繁通断电情况下容易死机的问题.通过对传统微处理器复位电路的理论分析和工作波形仿真,发现在电源掉电时,微处理器在其复位引脚受到外部复位电容的放电冲击时,容易进入闩锁状态.由此提出上电复位电路也是容易导致CMOS电路进入闩锁的外部触发条件之一,并在此基础上设计了一种新型抗闩锁复位电路,能够自动检测电源掉电,导通泄流回路,使复位电容避开复位引脚放电.仿真分析和样机测试验证了其抗闩锁功能的有效性.