电子束选区熔化制备纯钼块体的组织与性能

摘要

采用电子束选区熔化技术制备纯钼块体,采用化学分析法、金相显微镜、分析天平及显微硬度计对纯钼块体的杂质元素含量、显微组织、密度和显微硬度进行测试.结果表明:采用电子束选区熔化成形技术制备的纯钼块体中C、O、N和H等杂质元素增量小于0.001％.一次熔化成形的纯钼块体显微组织中,沿沉积方向呈粗大柱状晶,并且沿晶界存在少量微裂纹.而通过二次熔化工艺,可以细化晶粒,抑制微裂纹生长.较优的电子束二次选区熔化成形工艺为:一次熔化电流12 mA、熔化速度0.6 m/s;二次熔化电流12 mA,熔化速度0.89 m/s.该工艺下成形的纯钼块体致密度达99％以上(密度(10.15±0.13)g/cm3),硬度(HV0.2)在185～200之间,无明显各向异性.