H2O2浓度对等离子体电化学法制备银纳米颗粒的影响

摘要

利用等离子体电化学法制备银纳米颗粒,通过局域等离子体共振(Localized Surface Plasmon Resonance,LSPR)吸收光谱实时监测银纳米颗粒(Ag Nanoparticles,Ag-NPs)的生长过程,验证了在不同放电电流条件下放电等离子体与溶液相互作用产生的过氧化氢(H2 O2)对已生成的Ag-NPs的氧化刻蚀作用,进一步地观察了反应结束后加入不同浓度的H2 O2对Ag-NPs的氧化刻蚀程度.实验结果表明:当放电电流较大时,溶液中产生的H2 O2含量越多,会氧化溶液中生成的Ag-NPs,表现为LSPR吸收光谱的吸收峰强度下降;在放电结束后,加入的H2 O2浓度越大,Ag-NPs的氧化刻蚀现象越明显,表现为LSPR吸收光谱的吸收峰强度下降速率越大.探讨反应体系中的H2 O2浓度问题,可以为更好地使用此方法制备其他金属纳米颗粒提供思路.