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电触头闭合过程中熔焊现象研究

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摘要

触头熔焊既可以发生在接通过程,亦可以发生在分断过程.采用触头模拟装置进行触头的电寿命试验,阐明接通过程中的熔焊现象是发生在触头弹跳分离瞬间,还是闭合瞬间,以及闭合弹跳次数及时间对熔焊发生概率的影响.经分析,得出熔焊发生具有随机性.

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来源
《低压电器》 |2017年第14期|9-1216|共5页
作者
朱青成; 李震彪; 柳子逊; 宗天元; 魏江; 黄靖;
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作者单位

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室,湖北武汉 430074;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类插接件;
关键词
触头; 熔焊; 弹跳; 随机性;

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