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高功率密度光纤激光元器件传输特性测试系统

     

摘要

为了提高高功率密度下光纤激光元器件传输特性测量精度,采用基于光纤标准测试方法的双光路测量结构,设计了自动光功率比测量系统.对双光路系统的特点进行了理论分析和实验验证.利用固体微晶片激光器作为光源输出,建立了折射率匹配法传输特性测试仪实验装置,对掺镱双包层光纤的传输损耗特性进行了测量.实验中测得35m长掺镱双包层光纤对1064nm光的插入损耗为2.645dB,测得100组数据对应的标准偏差为0.026dB.并在不同的条件下进行了多次重复实验,重复测量误差不超过0.07dB.这一结果对于提高光纤激光元器件测试精度是有帮助的.

著录项

  • 来源
    《激光技术》|2009年第5期|459-461465|共4页
  • 作者单位

    清华大学,精密仪器与机械学系,光子与电子研究中心,摩擦学国家重点实验室,北京,100084;

    清华大学,精密仪器与机械学系,光子与电子研究中心,摩擦学国家重点实验室,北京,100084;

    清华大学,精密仪器与机械学系,光子与电子研究中心,摩擦学国家重点实验室,北京,100084;

    清华大学,精密仪器与机械学系,光子与电子研究中心,摩擦学国家重点实验室,北京,100084;

    清华大学,精密仪器与机械学系,光子与电子研究中心,摩擦学国家重点实验室,北京,100084;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光纤元件;
  • 关键词

    光纤光学; 传输特性; 双光路; 光纤激光元器件; 插入损耗;

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