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HAST在塑封微电路评价中的应用

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摘要

湿热环境对塑封微电路(PEM)的可靠性影响较大,而相关标准均给出了PEM的加偏置高加速应力试验(HAST)方法的相关要求.基于此,文章介绍了HAST模型及其对PEM失效模式、失效机理的影响,以及加速因子计算和偏置电压施加准则.

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来源
《光源与照明》 |2021年第3期|96-97|共2页
作者
阳辉; 钟征宇; 黄文铮; 杜忠磊;
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作者单位

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司北京 100089;

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司北京 100089;

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司北京 100089;

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司北京 100089;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
塑封微电路; 高加速应力试验; 加速因子; 失效模式; 失效机理; 偏置电压;

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