在单晶片CdS_xSe_1－x上的非线性特性的研究

摘要

提供了一种研究非线性晶体透过率特性的实验（双光束方法）和理论方法。使用这一方法可记录到厚度为１μｍ的单晶片上的时间为１－μｓ范围内的透过率变化，并用计算机模拟了这一过程。