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姜书艳; 罗毅; 罗刚; 谢永乐;
电子科技大学自动化工程学院,成都,610054;
成都电子机械高等专科学校机械工程系,成都,610031;
故障模型 ; 缺陷测试; 动态电流测试; 故障模拟 ;
机译:用于高密度,低功耗DRAM的板级并行测试电路和短路故障修复电路
机译:基于双栅和单栅有机薄膜晶体管的有机逆变器电路的静态和动态性能分析
机译:Hf_xZr_(1-x)O_2 /金属栅p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中动态负偏置应力后栅电流异常驼峰的分析
机译:高密度,低功耗DRAM的板级并行测试和短路故障修复电路
机译:适用于非常深的亚微米CMOS电路的新型动态电源电流测试方法。
机译:栅漏电流在AlGaN / GaN肖特基栅HFET和MISHFET中引起的陷阱
机译:单浮栅缺陷的CMOS组合电路电流测试
机译:组合电路中短路故障的诊断。
机译:MOSFET或绝缘栅双极晶体管功率端级的控制电路具有功率驱动器级,该功率驱动器级由具有电流吸收器和相关电流检测器的输入级控制
机译:包括栅电极级区域的集成电路,所述栅电极级区域包括交叉耦合的晶体管,所述交叉耦合的晶体管具有位于栅电极级区域的内部上方的栅极触点和偏置的栅级特征线端
机译:包括栅电极级区域的集成电路,所述栅电极级区域包括交叉耦合的晶体管,所述交叉耦合的晶体管具有位于栅电极级区域的外部上方的至少一个栅极触点
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