利用POCKELS效应对超快电信号进行无扰测量

摘要

本文提出了一种对具有重复频率的超快电信号的测量技术。利用Ｐｏｃｋ－ｅｌｓ效应，可对二维平面的高速器件的超快电信号进行无损无扰取样测量，其时间分辩率远超过目前世界上最高水平的取样示波器。本文阐述了此系统的原理及应用，并着重对系统的性能进行分析，指出它的实现可望成为测量快速电信号的一种新型技术。