采用新型晶体测量超短光脉冲

摘要

采用新型晶体ＰＯＭ作倍频器件，建立了超短光脉冲二阶强度自相关检测系统，并对半导体超短光脉冲进行了测量。系统的最小可检测平均光功率为１００μＷ，可测最大脉宽为１８０ｐｓ，最高分辨率为１６ｆｓ。