不确定度评价方法在高纯锗探测器参数修正中的应用

摘要

将统计性不确定度评价方法应用到高纯锗(HPGe)探测器参数的标定和修正工作中.结合蒙特卡洛模拟和统计性不确定度评价方法,分析探测器参数在探测效率模拟结果中的相对重要性,对重要参数同时进行多次简单蒙卡抽样,模拟计算探测器对多空间点、多γ源的探测效率,找出真实效率与模拟效率的最小偏差,即能确定最佳探测器参数.结果表明,此方法修正探测器参数后,对60Co,137Cs,241Am源在标定点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%,在3个验证点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%.